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膜厚測試儀具有以下幾點(diǎn)特色
點(diǎn)擊次數(shù)：1133 更新時間：2022-06-27
膜厚測試儀分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
具有強(qiáng)大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM®V6軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。
膜厚測試儀還有以下的特色：
1、特大屏幕能提供畫中畫顯示分析結(jié)果，光譜及彩色影像圖，圖像亦可以用JPG格式儲存。
2、儀器能同時間分析*多24種不同的元素；根據(jù)可檢定的元素范圍由xppm到100%，所以原子序號可由氯Cl=17）到鈾（UraniumZ=92）。
3、可同時測量23層不同元素鍍層的厚度。
4、共有1024頻道顯示清晰光譜，可隨意選用不同顏色及儲存光譜圖，方便日后加以分析。
5、因?yàn)椴煌軝z樣本的光譜可以進(jìn)行比較，所以便快捷和容易地得出兩種不同樣本含量的分別。
6、快速的頻譜分析以決定合金成分。
7、可以隨意創(chuàng)建元素分析應(yīng)用程式。
8、透過預(yù)先設(shè)入的14種純元素作為資料庫，儀器便可以不需用標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校亦能以基本系數(shù)（FP）進(jìn)行分析；如果輸入已知的元素更可快捷地得出含量結(jié)果。
9、可同時接受*多10種不同含量的標(biāo)準(zhǔn)片來調(diào)校儀器，所得出的結(jié)果更精確及可信賴。
10、用滑鼠選擇已經(jīng)儲存的應(yīng)用檔案后，便可即時進(jìn)行含量分析。
11、測量樣品后，可透過“analysis”功能按鍵，儀器便會自動偵測內(nèi)里的元素含量。
12、自帶SOFTWAREPDM（ProductDataManagement產(chǎn)品數(shù)據(jù)管理）提供了以下的附加功能：
13、通過可定義的文件夾實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品文件管理（產(chǎn)品文件包括應(yīng)用，數(shù)據(jù)呈現(xiàn)方式，打印形式定義，輸出模板設(shè)置和記事簿）。
14、打印形式可由用戶隨意設(shè)定，例如輸出公司標(biāo)題之類的小圖片。包括字體管理以及隨意定義頁面設(shè)置。
15、單個的應(yīng)用可連接至任何的產(chǎn)品文件（這種連接大大減少了校驗(yàn)和標(biāo)準(zhǔn)化所需的步驟數(shù)）。
16、使用條形碼標(biāo)簽以及可選擇的條形碼讀入器鍵盤，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品自動選擇。允許僅對選擇的數(shù)據(jù)進(jìn)行評估。
17、從選擇的數(shù)據(jù)塊中進(jìn)行單組讀數(shù)的數(shù)據(jù)輸出。
18、FISCHERSCOPE®X-RAYXDVM-u可以透過RS232接口、磁碟片或網(wǎng)絡(luò)卡將所要的資料匯出到其他電腦進(jìn)行統(tǒng)計。
19、XYZ運(yùn)行程序功能：隨機(jī)的單個點(diǎn)，*點(diǎn)和*后一點(diǎn)以及距離固定的中間點(diǎn)，列陣點(diǎn)，鼠標(biāo)左鍵選點(diǎn)功能，右鍵可作為控制鍵。
